SIS mit Schwerpunkt Klassifikation

Der diesjährige Surface Inspection Summit 2003 (SIS) knüpft nach der erfolgreichen letztjährigen Veranstaltung mit 300 Besuchern aus 150 Unternehmen und 30 Staaten nahtlos an deren Fragestellungen an. Das jetzt erstellte Programm der Kongress-Messe thematisiert die Klassifikation von Defekten auf Metallbändern ...

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